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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí),故由不同原子散射的X射線相互...
X射線熒光能譜儀是一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光能譜儀的選擇性高,分析微量組分時(shí)受基體的影響小,在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光能譜儀可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量剖析。X射線是用高速電子轟擊原子的內(nèi)層電子,使之處于高激發(fā)狀態(tài),同時(shí)外層的電子躍遷到缺少電子的內(nèi)層軌道。在此過程中會(huì)伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大,波長(zhǎng)小,肉眼不可見,稱之為X射線。X射線熒光能譜儀波長(zhǎng)也...
xrf分析儀可用于驗(yàn)證焊縫材料成份:合金部件或組件的強(qiáng)度取決于焊縫的強(qiáng)度。采用合適的填充材料,形成兩個(gè)合金零件之間的焊縫,對(duì)于確保部件的可靠性和完好性十分重要。如果要在預(yù)期的條件下,在預(yù)期的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi),確保焊縫強(qiáng)度*可靠,*的方法是采用符合規(guī)格的焊縫材料。確定焊縫材料規(guī)格時(shí),不僅要依據(jù)焊縫本身的預(yù)期性能,而且要依據(jù)被焊接在一起的本體合金的性質(zhì)。造成焊縫材料偏離規(guī)格的原因有很多,包括加工時(shí)出現(xiàn)材料混淆,或者供應(yīng)商提供了錯(cuò)誤的材料。如果出現(xiàn)焊縫材料混淆,需要花費(fèi)很多的時(shí)間和費(fèi)用進(jìn)...
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器,廣泛應(yīng)用于各大、專院校,科研院所及廠礦企業(yè)。X射線衍射儀的原理介紹:x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時(shí),受到物體中原子的散射,每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng),在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果,便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀是利用衍射原理,測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,的...
工業(yè)X射線衍射儀是進(jìn)行X射線分析的重要設(shè)備,主要由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。工業(yè)X射線衍射儀帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。工業(yè)X射線衍射儀的X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成,它是產(chǎn)生X射線的裝置,由X光管發(fā)射出的X射線包括連續(xù)X射線光譜和特征X射線光譜,連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對(duì)稱性和進(jìn)行晶體定向的勞埃法,特征X射線用于進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進(jìn)行物相鑒定的粉末法。工業(yè)X射線衍射儀可用于點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定:點(diǎn)陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)...
進(jìn)口X射線衍射儀的衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。晶體取向的測(cè)定又稱為單晶定向,就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與...